垂直探针卡
悬臂式探针卡
3D MEMS探针卡
多媒体SoC芯片
现场可编程逻辑器件(FPGA)
射频前端芯片
集成电路芯片制造
公司简介
发展历程
合作客户
投资者关系
信息披露
联系我们
Mechanical machining probes
For SOC pad/bump testing
High geometry accuracy / Fine pith capability / High speed capability
Low contact force / Low pad/bump damage / High CCC / Easy replace pins